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MLR系列多路绝缘电阻测试设备(离子迁移测试设备),是一款灵活性、多通道可分组的测试设备，可根据测试不同的要求，建立多组测试模式。测试电压、通道数有多重规格可选。可以同时测试监控多路数据，上位机对下位机直接控制，进行测试数据传输和保存，智能报警等功能。
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。本系统通过长期监测其漏电流的情况，确保组件在达到一定的性能衰减后提出报警，测试出组件的使用寿命水平，使其能保证组网的安全运行。PID的测试标准是根据IEC62804 光伏组件性能测试标准、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试标准结合而成。
随着社会的发展，智能化水平越来越高，在更多的场景会用到 PCB 板，尤其很多使用环境比较恶劣，例如消费电子，汽车电子，外部环境监控设备等等。为了提高 PCB 板在不同使用环境下有稳定的性能表现，厂商会对 PCB 板材进行CAF 测试，即在长时间的高温高湿的环境下，对板材不同的测试点间的绝缘电阻进行全程的跟踪测量。
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