产品中心

PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减,是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料,电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移,而造成组件性能衰减的现象。本系统通过长期监测其漏电流的情况,确保组件在达到一定的性能衰减后提出报警,测试出组件的使用寿命水平,使其能保证组网的安全运行。PID的测试标准是根据IEC62804 光伏组件性能测试标准、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试标准结合而成。
随着社会的发展,智能化水平越来越高,在更多的场景会用到 PCB 板,尤其很多使用环境比较恶劣,例如消费电子,汽车电子,外部环境监控设备等等。为了提高 PCB 板在不同使用环境下有稳定的性能表现,厂商会对 PCB 板材进行CAF 测试,即在长时间的高温高湿的环境下,对板材不同的测试点间的绝缘电阻进行全程的跟踪测量。
< 1 >