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光伏ZC1608多路电势差诱导功衰(PID)测试系统
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。本系统通过长期监测其漏电流的情况，确保组件在达到一定的性能衰减后提出报警，测试出组件的使用寿命水平，使其能保证组网的安全运行。PID的测试标准是根据IEC62804 光伏组件性能测试标准、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试标准结合而成。

光伏ZC1608多路电势差诱导功衰(PID)测试系统

ZC62-128/256多路绝缘电阻（CAF）测试系统
随着社会的发展，智能化水平越来越高，在更多的场景会用到 PCB 板，尤其很多使用环境比较恶劣，例如消费电子，汽车电子，外部环境监控设备等等。为了提高 PCB 板在不同使用环境下有稳定的性能表现，厂商会对 PCB 板材进行CAF 测试，即在长时间的高温高湿的环境下，对板材不同的测试点间的绝缘电阻进行全程的跟踪测量。

ZC62-128/256多路绝缘电阻（CAF）测试系统

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